
Panevėžio mechatronikos centras turi tokią įrangą skirtą studijų procesui ir mokymui:
- Pneumoautomatikos stendai - 6 darbo vietos;
- Elektropneumatikos stendai - 6 darbo vietos;
- Hidroautomatikos stendai - 2 darbo vietos;
- Programuojamieji loginiai valdikliai - 6 darbo vietos;
- Jutikliai gamybinėse sistemose - 6 darbo vietos;
- Pramonės įrengimų automatinio valdymo sistemos - 6 darbo vietos;
- Dažninės pavaros - 4 darbo vietos;
- Elektrotechnikos laboratorinių kompiuterizuoti stendai - 4 darbo vietos;
- Kompiuterinės valdymo sistemos - 4 darbo vietos;
- Robotikos modeliavimo programinė įranga - 4 darbo vietos;
- Programuojamieji loginiai valdikliai mechatroninės sistemose - 4 darbo vietos;
- Elektronikos kompiuterizuoti stendai - 2 darbo vietos.
Įranga moksliniams tyrimams
1. Atominės absorbcijos spektrometras.
2. UV/Vis
spektrometras
3. Elektroninis skenuojantis mikroskopas:
El. pluoštelio skersmuo 2 nm arba
mažesnis.
El. pluoštelio skersmuo, esant 1 kV
anodinei įtampai4 nm arba mažesnis.
Didinimas 20 - 1 000 000 arba geriau.
Elektronų šaltinis Schottky lauko
emiteris.
Elektronų pluoštelio srovės tankis
didesnis nei 7500 A/cm2 2 nm pluošteliui.
Detektoriai Antrinių elektronų (SE),
atspindėtų elektronų (BSE).
4. Elektroninės litografijos įrenginys:
Garantuotas minimalus darinio dydis 20 nm arba geriau.
Pavyzdžio pozicionavimo įtaisas -
grįžtamuoju ryšiu valdomas pozicionieriaus su 100x100 mm
pozicionavimo lauku.
Pavyzdžio pozicionavimo tikslumas 2 nm
arba geriau.
Sudūrimo ir persidengimo tikslumas
geriau nei 40 nm, vertinant satistiškai pagal formulę |vidurkis|+3σ.
Eksponuojamo pavyzdžio dydis 150 mm
(6'') skersmens diskinis, 100x100 mm kvadratinis arba geriau.
5. EDS (spektroskopijos priedas, integruotas su SEM):
Detektorius - SDD (silicon drift detector).
Energetinė skyra - 133, 129 ir 127 eV (Mn
Kα) nuo 1 iki 100 000 cps.
Skaičiavimo ruožas - 1 000 000 arba
daugiau.
Aktyvi sritis - 10 mm2.
Aptinkami elementai - nuo boro (5) iki
Americio (95) arba geriau.
6. Jonoplazminio ėsdinimo įrenginys
7. Skenuojančiojo zondo mikroskopas
Zondavimo tipas
-atominių jėgų (AFM).
Skenavimo ruožas -100 μm arba geriau.
Z ruožas -10 μm arba geriau.
Z skyra -0,4 nm arba geriau.
XY skyra -2 nm arba geriau.
8. Fotorezisto užnešimo centrifuga
|